四探針方阻電阻率測試儀

簡要描述：四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-06-11
訪問量：3443

產品咨詢聯系我們

Product Category

體積表面電阻率測試儀

半導電橡膠體積電阻率測試儀四探針方阻儀 LST系列高絕緣電阻率測試儀體積表面電阻率測試儀體積電阻率測試儀表面電阻率試驗儀直讀體積表面電阻率測試儀尼龍體積表面電阻率測試儀絕緣材料體積表面電阻率測試儀橡膠塑料薄膜體積表面電阻率測試儀表面電阻率測試儀

品牌	中航鼎力	電源	220v

四探針方阻電阻率測試儀儀描述：

采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

參照標準：

硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

.適用范圍：

適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品

規格型model	LST-331
1.方塊電阻范圍	10^-5～2×10^5Ω/□
2.電阻率范圍	10^-6～2×10^6Ω-cm
測試電流范圍	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度	±0.1%
5.電阻精度	≤0.3%
6.顯示讀數	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率
7.測試方式	普通單電測量
8.工作電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.誤差	≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻.
11.測試探頭	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
12.標準電阻（選購）	規格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

四探針方阻電阻率測試儀注意事項：

　1.檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。

　　2.接通電源調零，（注意此時主機不得與屏蔽箱線路連接）在“Rx"兩端開路的情況下，調零使電流表的顯示為0000。然后關機。

　　3.將待測試樣平鋪在不保護電極正中央，然后用保護電極壓住樣品，再插入被保護電極（不保護電極、保護電極、被保護電極應同軸且確認電極之間無短路）。

　　4.測體積電阻時測試按鈕撥到Rv邊，測表面電阻時測試按鈕撥到Rs邊，

　　5.接好測試線，將測試線將主機與屏蔽箱連接好。量程置于104檔，打開主機后面板電源開關按鈕。從儀器后面板調電壓按鈕到所要求的測量電壓。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡膠絕緣電阻率的測定標準中注明要求在500V電壓進行測定，那么電壓就要升到500V)

　　6.電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥，每撥一次停留1-2秒觀察顯示數字，當被測電阻大于儀器測量量程時，電阻表顯示“1"，此時應繼續將儀器撥到量程更高的位置。測量儀器有顯示值時應停下，在1min的電化時間后測量電阻，當前的數字乘以檔次即是被測電阻。

　　7.測試完畢先將量程撥至（104）檔，然后將測量電壓撥至10V檔，后將測試按鈕撥到中央位置后關閉電源。然后進行下一次測試。

　　8.應在“Rx"兩端開路時調零，一般一次調零后在測試過程中不需再調零。

　　9.禁止將“RX"兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

四探針方阻電阻率測試儀

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：